產(chǎn)品別名 |
探針臂,FV-2,探針臺測試,探針臂接口 |
面向地區(qū) |
探針臺如何工作？
探針臺可以固定晶圓或芯片，并定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針都被設(shè)置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。
對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片上，使用顯微鏡找到的位置，壓板降低后下一個芯片可以進行測試。半自動和全自動探針臺系統(tǒng)使用機械化工作臺和機器視覺來自動化這個移動過程，提高了探針臺生產(chǎn)率。半導體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。
探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺外，晶圓檢測環(huán)節(jié)還需要使用測試儀/機，測試儀/機用于檢測芯片功能和性能，探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機的連接，通過探針臺和測試機的配合使用，可以對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數(shù)測試或射頻測試，可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。
FV系列高低溫真空探針臺 | ||||
功能/型號 | FV-2 | FV-4 | FV-6 | |
腔體 | 樣品臺尺寸 | 2英寸 | 4英寸 | 6英寸 |
觀察窗 | 高透石英玻璃 | |||
真空度 | 優(yōu)于2*10E-3Pa | |||
探針臂接口 | 4個 | 6個 | ||
KF接口 | 2個KF40接口、2個KF25接口、1個KF16接口 | |||
冷源接口 | CF接口，同軸方式 | |||
溫度控制 | 溫度范圍 | -196℃-200℃，可升級更高溫度 | ||
溫控精度 | 1℃/0.1℃/0.01℃ | |||
溫度穩(wěn)定性 | ±1℃/±0.1℃/±0.01℃ | |||
制冷 | 液氮/制冷機 | |||
加熱 | 直流加熱 | |||
顯微鏡系統(tǒng) | 顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡、體視顯微鏡、金相顯微鏡 | ||
放大倍率 | 400X | |||
固定方式 | 讓立柱旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu)、龍門架固定結(jié)構(gòu) | |||
探針臂 | 數(shù)量 | 多4個 | 多6個 | |
XYZ移動行程 | 50mm*10mm*10mm | 100mm*50mm*25mm | ||
移動精度 | 2um | |||
測試接頭 | 三軸接頭/射頻接頭 | |||
探針 | 鎢鋼/鈹銅材質(zhì)，針尖半徑可選 | |||
真空配件 | 分子泵 | 極限真空度10E-4Pa | ||
機械泵 | 極限真空度10E-1Pa | |||
附件 | KF25波紋管、KF40卡箍、KF25卡箍、KF16放氣閥 | |||
可搭配儀器 | 源表/半導體參數(shù)分析儀/萬用表/示波器/網(wǎng)絡(luò)分析儀等 | |||
其他附件 | 射頻配件、光學平臺、激光器、光纖、轉(zhuǎn)接頭、轉(zhuǎn)接線 | |||
公司所有產(chǎn)品出廠都經(jīng)過嚴格測試，產(chǎn)品質(zhì)量，公司所有產(chǎn)品通過CE認證，通過ISO9001質(zhì)量體系認證。
———— 認證資質(zhì) ————
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