現(xiàn)在國(guó)內(nèi)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展迅速，日新月異，國(guó)內(nèi)現(xiàn)在的目前的礦業(yè)正處于轉(zhuǎn)型期間，或多或少對(duì)環(huán)境還是有污染，朝著生態(tài)環(huán)保、發(fā)展、資源節(jié)約、技術(shù)創(chuàng)新是礦業(yè)的發(fā)展方向，東南亞及非洲的礦業(yè)發(fā)展非常迅速，這對(duì)礦產(chǎn)采選、冶煉、深加工等環(huán)節(jié)中對(duì)礦產(chǎn)品質(zhì)檢測(cè)有了更嚴(yán)格的要求。

金屬元素分析儀是一種常用的分析儀器，可以更好的滿足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗(yàn)等方面對(duì)材料多元素分析。金屬元素分析儀在目前廣泛使用的光電比色儀的基礎(chǔ)上，多設(shè)通道從根本上解決了光電比色元素分析儀波長(zhǎng)，檢測(cè)材料可以多種多樣，適合很多金屬制造業(yè)、機(jī)械制造業(yè)、鑄造企業(yè)對(duì)材料的檢測(cè)分析。

非金屬礦石分析儀是一種用于分析非金屬礦石中成分和性質(zhì)的儀器設(shè)備。其特點(diǎn)如下：
1. ：非金屬礦石分析儀具有的分析能力，能夠?qū)ΦV石樣品中微量成分進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
2. 多功能：非金屬礦石分析儀可以進(jìn)行多種分析，包括元素成分分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、物理性質(zhì)測(cè)試等。
3. 快速分析：非金屬礦石分析儀具有快速分析的特點(diǎn)，可以在短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)礦石樣品的分析，提高工作效率。
4. 高自動(dòng)化程度：非金屬礦石分析儀采用的自動(dòng)化技術(shù)。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測(cè)設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級(jí)。當(dāng)這些高能級(jí)電子回落到低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測(cè)器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號(hào)得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測(cè)，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測(cè)，不會(huì)對(duì)樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測(cè)試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

紅外光譜儀：
工作原理：利用物質(zhì)分子對(duì)紅外光的吸收特性進(jìn)行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會(huì)對(duì)特定波長(zhǎng)的紅外光產(chǎn)生吸收，通過測(cè)量樣品對(duì)紅外光的吸收光譜，可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，進(jìn)而識(shí)別礦石中的礦物成分。
特點(diǎn)：能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，可用于定性分析非金屬礦石中的有機(jī)物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分，操作相對(duì)簡(jiǎn)便，分析速度較快。
應(yīng)用：常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機(jī)質(zhì)等成分的分析，在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測(cè)中應(yīng)用較多。

電子顯微鏡：
工作原理：利用電子束代替可見光來成像，電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等，通過檢測(cè)這些信號(hào)來獲得樣品的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。
特點(diǎn)：具有高分辨率，能觀察到礦石樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形貌，可用于分析礦石的晶體結(jié)構(gòu)、礦物共生關(guān)系、雜質(zhì)分布等，還可配備能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。
應(yīng)用：在非金屬礦石研究中，用于深入了解礦石的微觀特征，指導(dǎo)礦石的選礦和加工工藝設(shè)計(jì)，以及研究礦石的成因和演化等。例如，在云母礦的研究中，通過電子顯微鏡可觀察云母的晶體結(jié)構(gòu)和層間雜質(zhì)，為云母的提純和應(yīng)用提供依據(jù)。