5001E滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。
5001E在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
測(cè)試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
測(cè)試步驟 步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間 開路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1.5Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍 電阻:0.1Ω至40MΩ電晶體: ±5V
電容:1.0PF至40mF Zener二極體: 標(biāo)準(zhǔn)配備,0.1V至48V

TR5001E測(cè)試儀

二手TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿足大多數(shù)客戶之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。

二手ICT TR5001E特點(diǎn)
. 模組化升級(jí)選項(xiàng)，可將MDA設(shè)備升級(jí)至ICT與功能測(cè)試系統(tǒng)
. 高測(cè)試覆蓋率之解決方案
. 少量測(cè)點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測(cè)試擴(kuò)充
. 人性化接口搭配快速又簡(jiǎn)單的程序發(fā)展

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇
美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開路難以完整偵測(cè)的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下：
1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測(cè)一個(gè)銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來(lái)偵測(cè)接腳的斷路與否。此技術(shù)無(wú)需撰寫任何程式，即可做正確而迅速的測(cè)試。
2.Agilent TestJet Technology可測(cè)試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (無(wú)接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測(cè)試。
3.Agilent TestJet Technology也可用來(lái)偵測(cè)各種插座的接腳斷路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測(cè)。